inTEST 熱流儀觸摸屏控制芯片高低溫沖擊測試
觸摸屏控制芯片又稱觸摸屏芯片, 觸控芯片, 屬于半導(dǎo)體芯片一種, 廣泛應(yīng)用于如消費類電子, 家用電器, 車載觸摸屏, 移動終端, 智能電網(wǎng), 物聯(lián)網(wǎng)等多個領(lǐng)域. 觸控芯片的關(guān)鍵性能指標(biāo), 除響應(yīng)速度, 抗電磁干擾, 防水等要求外, 芯片工作溫度也要求非常高.

上海伯東美國 inTEST 熱流儀提供觸摸屏控制芯片高低溫測試解決方案
某觸控芯片企業(yè), 其產(chǎn)品已在全球十多億臺智能設(shè)備上運行, 廣泛應(yīng)用于手機(jī), 平板電腦, 筆記本電腦, 智能家居, 汽車等產(chǎn)品. 一直采用上海伯東美國 inTEST ATS-710E-M 熱流儀與其測試機(jī)搭配, 為分析觸摸屏控制芯片, 觸摸板控制芯片, MCU 觸摸按鍵等產(chǎn)品的特性提供快速精準(zhǔn)的外部溫度環(huán)境, 實現(xiàn)測試芯片性能的要求.

inTEST 熱流儀滿足觸控芯片的三項測試標(biāo)準(zhǔn):
一. 基本性能測試: 溫度范圍 -50℃ 至 120℃ 之間快速循環(huán)測試
二. 特殊功能測試（非標(biāo)準(zhǔn)測試）: 搭配測試機(jī)共同使用, 通過軟件控制機(jī)臺, 通常設(shè)定3個溫度點, 高溫（80℃或 120℃）, 常溫 25℃, 低溫 -50℃; 結(jié)合測試機(jī)測參數(shù), 測試時間可幾秒鐘, 幾十分鐘, 甚至幾個小時.
三. 可靠性測試

上海伯東美國 inTEST ThermoStream 熱流儀是為觸摸屏芯片提供低溫或高溫環(huán)境來進(jìn)行可靠性測試的專用儀器, 因為其能在短時間內(nèi)迅速改變溫度而被廣泛應(yīng)用于芯片測試中, 能夠模擬觀察芯片在惡劣環(huán)境下的性能是否能維持正常水平. 測試系統(tǒng)在工作過程中, 會依據(jù)設(shè)定的溫度, 使系統(tǒng)通過特定的運算得出結(jié)果并去控制加熱器來達(dá)到調(diào)節(jié)溫度的目的.
 

inTEST 熱流儀功能特點

型號: ATS-710E-M 溫度范圍: -80 至+225 °C 變溫速率: -55至 +125°C 約 10 s; +125至 -55°C 約 10 s 溫度顯示精度: ±1℃ (通過美國國家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究院 NIST 校準(zhǔn)) 自動升降溫: 冷凍機(jī)特殊設(shè)計, 制冷劑不含氟利昂, 安全無毒, 不易燃, 有效保護(hù)環(huán)境; 不需要液態(tài)氮氣 LN2 或液態(tài)二氧化碳 LCO2 冷卻 預(yù)防結(jié)霜: 干燥氣流循環(huán)吹掃測試表面, 防止水汽凝結(jié) (氣體流量 0.5 至 3 scfm) 自動待機(jī): 空閑或加熱模式下, 自動減少能耗 加熱除霜: 快速去除冷凍機(jī)內(nèi)部積聚的水汽

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