KRi 射頻離子源 RFICP 220 IBE 離子束刻蝕閱讀數(shù): 6583

KRi 射頻離子源典型應(yīng)用: 12英寸, 8英寸 IBE 離子束刻蝕系統(tǒng)
上海伯東美國 KRi 考夫曼公司大口徑射頻離子源 RFICP 380, RFICP 220 成功應(yīng)用于 12英寸和 8英寸 IBE 離子束蝕刻機(jī), 實(shí)現(xiàn) 300mm 和 200 mm 硅片蝕刻, 刻蝕 均勻性(1 σ)達(dá)到< 1%. KRi 離子源可以用來刻蝕任何固體材料, 包括金屬, 合金, 氧化物, 化合物, 混合材料, 半導(dǎo)體, 絕緣體, 超導(dǎo)體等.
離子束刻蝕屬于干法刻蝕, 其核心部件為離子源. 作為蝕刻機(jī)的核心部件, KRi 射頻離子源提供大尺寸, 高能量, 低濃度的寬束離子束, 接受客戶定制, 單次工藝時間更長, 滿足各種材料刻蝕需求!
客戶案例: 12英寸 IBE 離子束蝕刻機(jī)安裝 KRi 射頻離子源
KRi 離子源工作過程: 氣體通入離子源的放電室中, 電離產(chǎn)生均勻的等離子體, IBE系統(tǒng)由離子源的柵極將正離子引出并加速, 然后由中和器進(jìn)行中和. 利用引出的帶有一定動能的離子束流撞擊樣品表面, 通過物理濺射將材料除去, 進(jìn)而獲得刻蝕圖形. 這一過程屬于純物理過程, 一般運(yùn)行在較高的真空度下.
由于等離子體的產(chǎn)生遠(yuǎn)離晶圓空間, 起輝不受非揮發(fā)性副產(chǎn)物的影響.
這種物理方案, 柵網(wǎng)拉出的離子束的能量和密度可以獨(dú)立控制, 提升了工藝可控性
通過載片臺的角度調(diào)整, 實(shí)現(xiàn)離子束傾斜入射, 可用于特殊圖案的刻蝕, 也適用于側(cè)壁清洗等工藝.
蝕刻多層時不需要化學(xué)優(yōu)化, 一般工藝通氬氣, 也可通活性氣體.
KRi 射頻離子源 RFICP 系列技術(shù)參數(shù):
型號 |
|||||
Discharge 陽極 |
RF 射頻 |
RF 射頻 |
RF 射頻 |
RF 射頻 |
RF 射頻 |
離子束流 |
>100 mA |
>350 mA |
>600 mA |
>800 mA |
>1500 mA |
離子動能 |
100-1200 V |
100-1200 V |
100-1200 V |
100-1200 V |
100-1200 V |
柵極直徑 |
4 cm Φ |
10 cm Φ |
14 cm Φ |
20 cm Φ |
30 cm Φ |
離子束 |
聚焦, 平行, 散射 |
|
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流量 |
3-10 sccm |
5-30 sccm |
5-30 sccm |
10-40 sccm |
15-50 sccm |
通氣 |
Ar, Kr, Xe, O2, N2, H2, 其他 |
||||
典型壓力 |
< 0.5m Torr |
< 0.5m Torr |
< 0.5m Torr |
< 0.5m Torr |
< 0.5m Torr |
長度 |
12.7 cm |
23.5 cm |
24.6 cm |
30 cm |
39 cm |
直徑 |
13.5 cm |
19.1 cm |
24.6 cm |
41 cm |
59 cm |
中和器 |
LFN 2000 |
上海伯東同時提供IBE 離子蝕刻系統(tǒng)所需的渦輪分子泵, 真空規(guī), 高真空插板閥等產(chǎn)品, 協(xié)助客戶生產(chǎn)研發(fā)高質(zhì)量的蝕刻系統(tǒng).
1978 年 Dr. Kaufman 博士在美國創(chuàng)立 Kaufman & Robinson, Inc 公司, 研發(fā)生產(chǎn)考夫曼離子源, 霍爾離子源和射頻離子源. 美國考夫曼離子源歷經(jīng) 40 年改良及發(fā)展已取得多項(xiàng)成果. 離子源廣泛用于離子清洗 PC, 離子蝕刻 IBE, 輔助鍍膜 IBAD, 離子濺射鍍膜 IBSD 領(lǐng)域, 上海伯東是美國 KRi 考夫曼離子源中國總代理.
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